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Produkte

Park Systems stellt die weltweit genauesten Geräte auf dem Gebiet der Mikroskopie und der Messtechnik im Nanometerbereich für den Einsatz in Wissenschaft und Industrie her. Unsere innovativen Features, wie True-Non Contact™ Modus und erstklassige Automatisierung, heben unsere Produkte von Mitbewerbern ab und machen Park Systems AFMs zu den am einfachsten zu bedienenden und fortschrittlichsten AFMs, die gegenwärtig erhältlich sind.


park-afm-nx10

Park Systems bietet eine Reihe von beliebten AFMs für generelle Anwendungen in Wissenschaft und Industrie an. Äusserst vielseitig, zugleich akkurat und funktionell bieten unsere Mehrzweck AFMs Wissenschaftlern und Ingenieuren die Möglichkeit, hochwertige Ergebnisse schnell und einfach zu erhalten.

Anwendungen:

  • Materialkunde
  • Elektrik & Elektronik
  • Naturwissenschaften
  • Defektprüfung
  • Halbleiter
  • Festplatten

 

park-nx10

Für uns bei Park Systems ist es klar, dass Wissenschaftler in der heutigen wettbewerbsorientierten Zeit keinen Moment an der Präzision ihrer Geräte zweifeln können. Aus diesem Grund haben wir das Park NX10 entwickelt: Das genaueste und am einfachsten zu bedienende AFM weltweit.

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park-nx20

Von Wissenschaftlern in allen Bereichen werden Ergebnisse erwartet. Fehlerhafte Ergebnisse, verursacht durch Instrumente, sind nicht akzeptabel. Aus diesem Grund hat Park das NX20 gebaut, ein AFM mit dem Ruf als das genaueste Gerät für große Proben. Wissenschaftler und Ingenieure auf der ganzen Welt schätzen das Gerät.

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park-xe15

Die besonderen Eigenschaften des Park XE15 machen das Gerät zur idealen Lösung von Laboratorien und Forschungseinrichtungen, die große Proben untersuchen und ein vielseitiges AFM benötigen. Dank ansprechendem Preis und einer breit gefächerten Ausstattung liefert das Park XE15 das beste Preis-Leistungsverhältnis auf dem Markt.

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park-xe7

Das Park XE7 ist eines der kostengünstigsten AFMs für die Forschung. Dank niedrigem Anschaffungspreis und geringen Unterhaltskosten ist es die perfekte Lösung für Fachbereiche mit Bedarf für ein leistungsstarkes Forschungs-AFM und kleinem Budget. Mit Park’s True Non-Contact™ Modus sparen Sie an Kosten für Sondenspitzen. Es ist robust und ausbaufähig. So können Sie das Gerät länger im Labor benutzen als Geräte unserer Mitbewerber.

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nx-hivac

Das Park NX-Hivac ist ein führendes Hochvakuum-AFM für die leistungsstarke Defektanalyse von hoch-dotierten Halbleitern. In unverkennbarer Park Technologie liefert das Park NX-Hivac, ein echtes Hochvakuum-AFM, hohe Auflösung mit geringen Rauschen. Verlässliche Messergebnisse sind einfach zu erhalten. Das Park NX-Hivac ist die ideale Lösung zur Erhöhung von Durchsatz und Präzision.

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life-science-thum

Der Biologiesektor ist der am stärksten wachsende Bereich im 20. Jahrhundert. Park AFMs haben in diesem Sektor stets eine hervorragende Rolle gespielt. Park hat Wissenschaftlern die richtigen Werkzeuge in die Hand gegeben, um komplexe biologische Vorgänge und Strukturen zu untersuchen.

 

park-nx10-sicm

Das Park NX10 Scanning Ion Conductance Mikroskop (SICM) erlaubt Wissenschaftlern das genaue Messen von Proben in wässrigem Milieu. Elektrochemische Untersuchungen mit SICM können jetzt kombiniert werden mit Ergebnissen zu Mechanismen von Redoxreaktionen und anderen Phänomenen mit der Möglichkeit, die Topographie der Probe zu erfassen. Diese Korrelation der Daten ist von enormer Bedeutung für die zukünftige Entwicklung von Batterien. Hier kann mit SICM zugleich die Batterieleistung und die Zersetzung im Nanobereich ermittelt werden. Park NX10 SICM hat auch entscheidende Vorteile für zellbiologische Studien. SICM übt im Gegensatz zu AFM keinen Druck auf die Probe aus. Das bedeutet, Zellbiologen können lebende Zellen ohne Störung untersuchen. Dies eröffnet neue Wege für Untersuchungen auf dem Niveau der Zelle. Park NX10 SICM Module sind auch erhältlich als Zubehör zu einem bestehenden Park NX10 AFM. Das erlaubt den einfachen Wechsel zwischen beiden Technologien in einem leistungsfähigen Gerät für umfassende Probenanalyse.

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park-nx-bio

Wir wissen wie wichtig flexible und leistungsstarke Plattformen für den Forscher in der Nanobiologie sind. Aus diesem Grund haben wir das Park NX-Bio konzipiert. Es vereint ein Raster-Ionen-Leitfähigkeits-Mikroskop (SICM), ein True Non-Contact Mode™ Raster-Kraft-Mikroskop (AFM) und ein invertiertes optisches Mikroskop in einem leistungsfähigen Paket.

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Park Systems stellt nicht nur AFMs für die Wissenschaft, sondern auch für die Industrie, her. Aus diesem Grund haben unsere Designer eine Reihe von Geräten speziell für die Defektanalyse und andere industrielle Anwendungen entwickelt. Diese Geräte ermöglichen Messungen mit hoher Genauigkeit in kurzer Zeit. Das erhöht die Effizienz am Arbeitsplatz und verringert die Fehlerquote. Insgesamt führt das zu einem profitableren und konsistenten Entwicklungs- und Produktionsprozess.

Applications:

  • Defektanalyse
  • Halbleiteranalyse
  • Festplattenanalyse

 

park-nx-hdm

Die Erfassung von Defekten in Medien und flachen Substraten im Nanonmeterbereich ist ein sehr zeitaufwendiger Prozess. Das Park NX-HDM ist ein Raster-Kraft-Mikroskop beschleunigt die Fehleranalyse durch automatische Fehlererkennung, Rastern und Auswertung. Das Park NX-HDM lässt sich direkt mit einer Reihe von optischen Untersuchungsgeräten verknüpfen. Das vergrößert den Durchsatz der automatischen Defektanalyse erheblich. Mit dem besten Rauschverhalten und der einzigartigen True-Non-Contact™-Technologie ist das NX-HDM das genaueste AFM auf dem Markt zur Messung der Oberflächenrauheit.

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park-nx-ptr

Das Park NX-PTR ist ein vollautomatisches industrielles inline AFM zur automatischen Messung von Pole-Tip-Rezession auf Rowbar-Level, individuellem Slider-Level und HGA-Level Sliders. Mit einer Präzision und Wiederholbarkeit im Sub-Nanonmeterbereich und hohem Durchsatz ist das Park NX-PTR das ideale Messgerät für Hersteller von Slidern zur Verbesserung der Produktionsrate.

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park-nx-wafer

Der Park NX-Wafer ist das einzige AFM für die Plattenfabrikation mit automatischer Defektanalyse. Das ermöglicht die Durchsatzerhöhung um bis zu 1000% mit hoher Präzision und Qualitätskontrolle beim Rastern von bis zu 300 mm großen Platten.

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park-nx-3dm

Park Systems hat die revolutionäre Park 3DM Serie für die vollautomatische Erfassung von Überhang-Profilen, die Seitenwand-Abbildung mit hoher Auflösung und die Messung von kritischen Winkeln. Dank der unabhängigen XY- und Z-Rastereinheit mit einem geneigten Kopf bewältigt das Gerät die Herausforderungen der normalen und „Flare tip“-Methoden bei der genauen Seitenwandanalyse. Mit dem True Non-Contact Mode™ der Park 3DM Serie ist die nicht-destruktive Messung von weichen Photoresistoren mit schmalen Probenspitzen möglich.

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