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Park Systems annonce la sortie du logiciel révolutionnaire simple clic SmartScan disponible sur les microscopes à force atomique Park XE Series

Park Systems, leader en microscopie à force atomique (Atomic Force Microscopy — AFM) depuis 1997, vient d'annoncer que Park SmartScan, un puissant logiciel d'exploitation d'AFM qui augmente considérablement la productivité et permet des images nanométriques fiables d'un simple clic est maintenant disponible sur les AFM Park XE series. SmartScan automatise complètement toutes les fonctions de paramétrage et de capture de l'image qui étaient autrefois effectuées manuellement par l'opérateur, produisant une imagerie nanométrique haute qualité en mode automatique cinq fois plus rapidement que la vitesse normale.

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Park Systems lance Park NX20 300mm, le microscope de recherche à force atomique pouvant scanner l’intégralité d’un wafer semi-conducteur de 300mm. Un véritable vecteur de productivité


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Le Park NX20 300mm est le premier microscope de recherche à force atomique (MFA) sur le marché capable de scanner la surface entière d'échantillon d’un wafer de 300 mm. Il utilise un mandrin à vide de 300 mm et maintient le bruit du système sous le seuil de 0.5angst.

"En un seul chargement et avec des mesures MFA à bruit réduit, le Park NX20 300mm accède au wafer de 300 mm dans son intégralité. Il ouvre ainsi la voie à de tous nouveaux champs d'automatisation de mesure de wafers de 300 mm," explique Keibock Lee, le Président de Park Systems

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Park Systems, leader mondial de la fabrication de microscopes à force atomique a reçu le prix « Global Enabling Technology Leadership Award » de la société Frost & Sullivan


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Mountain View, Californie, le 18 juillet 2016,

Frost & Sullivan a annoncé aujourd’hui que Park Systems a remporté le prix du « Global Enabling Technology Leadership » (prix du Leadership Mondial de Technologie Habilitante) pour sa capacité à créer des équipements et services en lien avec la microscopie à force atomique (AFM) qui offrent une précision, une fiabilité et une reproductibilité sans précédent.

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